半自動四探針觸屏測試儀晶圓、非晶硅/微晶硅和導電膜電阻率測量；選擇性發射極擴散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結擴散片；新型電極設計，如電鍍銅電阻測量等；半導體材料分析，鐵電材料，納米材料，太陽能電池，LCD，OLED，觸摸屏等.

產品型號：BX-Y1228A

更新時間：2025-02-09

廠商性質：生產廠家

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

關鍵詞：半自動四探針觸屏測試儀

雙電四探針測試儀四探針測試儀數字四探針測試儀探針測試機半自動四探針測試儀

產品用途：

四點探針標準測試方法，采用步進系統自動控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結果的影響；參照A.S.T.M 標準；測量方塊電阻、電阻率、電導率數據、PC軟件采集和數據處理實現自動點測模式或手動點測模式，同一位置的重復測試或多點的面電阻測量，報表輸出數據統計分析；提供標準校準電阻件.

儀器特點：

半自動四探針觸屏測試儀晶圓、非晶硅/微晶硅和導電膜電阻率測量；選擇性發射極擴散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結擴散片；新型電極設計，如電鍍銅電阻測量等；半導體材料分析，鐵電材料，納米材料，太陽能電池，LCD，OLED，觸摸屏等.

技術參數：

規格型號	BX-Y1228A
1.電阻	10^-6～2×10^5Ω
2.方塊電阻	10^-6～2×10^5Ω/□
3.電阻率	10-7～2×106Ω-cm
4.測試電流	1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA
5.電流精度	±0.1%
6.電阻精度	≤0.3%
7.PC軟件操作	PC軟件界面：電阻、電阻率、電導率、方阻、溫度、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、數據管理分析：過程數據，大、小值，均值，方差，變異系數，樣品編號，測試點數統計報表生成等
8.探針范圍選購：	探針壓力為100-550g；依據樣品接觸需要手動調節
9.探針	針間絕緣電阻：≥1000MΩ；機械游移率：≤0.3% 圓頭銅鍍金材質，探針間距1mm；2mm；3mm選配，其他規格可定制
10.可測晶片尺寸選購	晶圓尺寸：2-12寸（6寸150mm，12寸300mm）；方形片：大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm
11.分析模式	自動或手動單點模式
12.加壓方式	測量重復性：重復性≤3%
13.防護功能	具有限位量程和壓力保護;誤操作和急停防護;異常警報
14.測試環境	實驗室環境
15.電源	輸入: AC 220V±10%.50Hz 功耗：<100W
16.選購項目	電腦和打印機

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