激光橢偏儀多入射角測量儀是針對高.duan研發和質量控制領域推出的jizhi型多入射角激光橢偏儀。 BX-G103系列可在單入射角度或多入射角度下對樣品進行準確測量。可用于測量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數k；也可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數k；亦可用于實時測量納米薄膜動態生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數k。多入射角度設計實現了納米薄膜的絕對厚度測量。

產品型號：BX-G103

更新時間：2025-02-08

廠商性質：生產廠家

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工業專用儀表

應力儀光學儀表滲透壓測定儀其它檢測儀器地質勘探硬度計成孔質量檢測儀錨桿檢測儀測樁儀測力儀超前預報測試儀波速測試儀水位計熱量表溶出儀熱分析儀糖度儀折光儀(折射儀) X射線實時成像檢測機鋼絲繩檢測儀無損檢測儀/分選儀功率計微波天線測量系統放大器信號源頻率計高斯計輻射測量儀撓度檢測儀混凝土檢測儀壓力傳感器速度傳感器變送器液位計內窺鏡回彈儀裂縫檢測儀厚度檢測儀測厚儀探傷儀管道泄漏紙張測試儀粗糙度儀 Xγ輻射測量儀旋光儀熔點儀密度儀光澤度儀霧度計測色儀/色差儀地下管線探測儀信號線路測試儀爆破測試機抗熔試驗儀熱傳導性能測試儀熱輻射性能測定儀火焰蔓延性能測試儀氧指數測定儀阻燃測定儀白度儀記錄儀沉降儀找水儀空洞儀拉拔儀鋼筋檢測

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關鍵詞：激光橢偏儀多入射角測量儀

激光測量儀橢偏儀光源橢偏儀橢偏儀設備激光測高儀精度

產品用途：

激光橢偏儀多入射角測量儀是針對高.duan研發和質量控制領域推出的ji.zhi型多入射角激光橢偏儀。 BX-G103系列可在單入射角度或多入射角度下對樣品進行準確測量。可用于測量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數k；也可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數k；亦可用于實時測量納米薄膜動態生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數k。多入射角度設計實現了納米薄膜的絕對厚度測量。

儀器特點：

l .*的測量方法：Delta測量范圍0-360o，無測量死角問題（即使在0o或180o附近時也具有ji高的準確度），也可消除粗糙表面引起的消偏振效應對結果的影響

l 原子層量級的ji.高靈敏度和準確度：國.ji.先.進的采樣方法、高穩定的核心器件、高質量的制造工藝實現并保證了ji高的準確度和穩定性

l 百毫秒量級的快速測量：在保證ji.高精度和準確度的同時，可在幾百毫秒內快速完成一次測量，可滿足快速多點檢測和批量檢測需求

l 精準方便的樣品對準：視頻式自準直樣品方位精密對準系統，精度高、操作方便

l 簡單方便的儀器操作：一鍵操作即可完成復雜的樣品測量和分析；按照質控要求進行數據多種導出；豐富的模型庫和材料庫方便用戶的高ji操作；管理員/操作員不同的模式，保證儀器安quan

技術參數：